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BCD-310

发布时间:2024-12-09 08:05:05   来源:星空体育平台官网

  当前位置:北京百川宏宇交通设施有限公司四探针电阻率测试仪BCD-310四探针电阻率测试仪(单电)

  四探针电阻率测试仪(单电)本仪器配置各类测量装置能测试不一样的材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BCD-310 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。

  概述:采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,实验室;是检验和分析导体材料与半导体材料的品质的工具。可配置不同测量装置测试不一样材料之电阻率。液晶显示,温度补偿功能,自动量程,自动测量电阻,电阻率,电导率数据。恒流源输出;选配:PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器,薄膜按键简单易操作,中文或英文两种语言界面选择,电位差计和电流计或数字电压表,量程为1mV¯100mV,分辨率为0.1%,直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统别的部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距,四探针应以等距离直线排列,探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )(3)R2=与(R; +R,)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比,由表3中查出修正因子F,也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F,见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样,选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针,针尖与试样间压力为0.3 N¯0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样,选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针,针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V; R,/V=V/I, R,=V,R,/V_=V,/I,-双刀双撑电位选择开关。.定。欧娇表,能指示阻值高达10°日的漏电阻,温度针0℃-40℃,小刻度为0.1℃。光照、高频、需动、强电磁场及温醒度等测试环境会影响测试结果,甲醇、99.5%,干燥氮气。测量仪器探针系统操针为具有45~150°角的圆罐形破化鸭振针,针实半径分别为35μm~100μm.100 μm (5)电压表输入阻抗会引入测试误差,硅片几何形状,表面粘污等会影响测试结果,R(TD-R_xF式中:计算每一测量位置的平均电阻R.,见式(3).试剂优级纯,纯水,25℃时电阻率大于2MN.cm,s=号(二[R,(TD-瓦(7D羽yt ..计算每一测量位置在所测温度时的薄层电阻(可根据薄层电阻计算出对应的电阻率并修正到23℃,具体见表4)见式(5).用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上,试样放置的时间应足够长,到达热平衡时,试样温度为23 ℃1℃.接通电流,令其任一方向为正向,调节电流的大小见表1测量范围电阻率:1×10-4~2×105Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102Ω-cm方 阻:5×10-4~2×105Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102Ω/□电 阻:1×10-5~2×105Ω ,分辨率:1×10-6~1×102Ω 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)直 径:A圆测试台直接测试方式 15~130mm,方测试台直接测试方式180mm×180mm, 长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm, 测量方位: 轴向、径向均可

  所给出的某一合适值,测量并记录所得数据,所有测试数据至少应取三位有效数字。改变电流方向,测量、记录数据。关断电流,抢起探针装置,对仲裁测量,探针间距为1.59

  液晶显示:电阻值、电阻率、电导率值、温度、单位自动换算、横截面、高度、电流、电压等

  1.标准校准电阻1-5个;2.PC软件一套;3.电脑和打印机依照客户要求配置;4.计量证书1份

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